光學元件麵型測量儀

Kaleo MultiWave 是一台多波長工作的光學元件麵形測試係統，用於替代昂貴、低效、操作複雜的幹涉儀，測量光學元件的表麵麵形、透過波差等參數。

Kaleo MultiWave 通過單次測量即可提供完整的3-D形貌及非平麵元件的曲率。所有表麵質量參數尊崇ISO 10110標準。表麵不規則，粗糙度以及波紋亦可測試。

Kaleo MultiWave*的多波長測試功能可以在光學元件設計的工作波長進行測試，從而對光學元件基底、鍍膜獲得完整的評價。儀器具備和傳統幹涉儀同等的精度，同時具備更大的動態範圍以測試複雜麵形的光學元件。測試以雙程模式工作，兼容透射與反射測量。

多波長幹涉儀：

同一機台，多個波長

標配：625nm - 780nm - 1050nm

可選：UV - 400nm - 1100nm - 短波紅外

高動態範圍：

> 20um PV

高度畸變波前測試

高精度：

精度與幹涉儀同等

高重複度，低噪聲

高性價比的幹涉儀解決方案

規範：

遵從ISO 5725 標準

兼容MetroPro 格式

兼容 ISO 10110 格式

用途：

表麵麵形測試

鍍膜（AR，介質膜，金屬膜測試......）

窗片，幹涉濾光片測試

透鏡，非平麵鏡測試

應用：

光學元件研發製造

濾光片及窗片製造

空間及防務

汽車工業

激光器及其應用

光學元件麵型測量儀KALEO MultiWave技術指標：

光學元件麵型測量儀KALEO MultiWave測試實例：

與Fizeau幹涉儀測試結果的比較

NBP-780濾光片測試。二者測量RWE的偏差小於40nm P-V

非球麵鏡3-D麵形

 單次測量，無需空白透鏡。可通過扣除理想曲麵得知麵形殘餘誤差，從而獲知非球麵鏡的加工質量。

產線設備監控

通過對塑料、樹脂模壓光學元件的直接測試，實時獲知加工效果，對模具狀態、工件調整精度等作出實時評價。